～AI・HPC・車載SoCの「歩留まり」と「信頼性」を最大化するメモリリペア技術を展開～
JFE商事エレクトロニクス株式会社のプレスリリース
JFE商事エレクトロニクス株式会社（本社：東京都千代田区、代表取締役社長：柳澤 孝彰、以下「J商エレ」）は、車載グレードのメモリテスト※1およびリペアソリューション※2の業界リーダーであるiSTART-TEK Inc.（本社：台湾、社長：JJ Lai氏、以下「iSTART-TEK」）と正規販売代理店契約を締結いたしました。
本契約により、J商エレは、AIアクセラレータやHPC※３、次世代モビリティなど、大容量メモリを搭載するハイエンドSoC※４ 開発企業や、車載グレードを必要とする半導体開発企業に対し、iSTART-TEKの革新的な「歩留まり改善・ライフサイクル監視ソリューション」の提供を開始いたします。
■ 背景： 微細プロセス・大容量メモリ時代の「品質とコスト」の壁
生成AIや自動運転の普及に伴い、SoCのメモリ搭載量は爆発的に増加しており、最先端プロセスにおける「製造歩留まりの低下」や、稼働中の「経年劣化によるシステムダウン」が重大な経営・品質課題となっています。 ISO 26262(機能安全規格)においても、メモリの保護が最重要項目のひとつとなっています。
J商エレは、これらの課題に対し、「製造時の歩留まり最大化」と「フィールドでの自己修復」を両立できるiSTART-TEKの技術が、日本の先端半導体開発の競争力強化に不可欠であると判断し、今回の提携に至りました。
■ iSTART-TEKソリューションの特長と導入メリット
1. 歩留まり最大化と市場不良ゼロへの挑戦
独自のアルゴリズムが微細なメモリ欠陥を高精度に検出し、最適なリペア回路を自動生成。先端プロセスチップの廃棄ロスを最小限に抑え、製造コストを劇的に改善します。
2. フルライフサイクル監視と自己治癒
製造時からサーバー・車両での稼働中まで、メモリ状態を常時監視。経年劣化や突発的な故障を自律的に検知・修復（累積修復）することで、システムのダウンタイム発生を抑止します。
3. AI活用による設計自動化と期間短縮
特許取得済みのアルゴリズム生成技術とAI支援機能により、複雑化するメモリテスト設計を自動化。開発リソースをコアロジックに集中させ、製品の市場投入期間の短縮に貢献します。
4. 次世代不揮発性メモリ・eFlashへの対応
AIエッジデバイス等で採用が進むMRAMやeFlash※５ などの特殊メモリにも対応。高カバレッジなテストにより、長期間のデータ保持性能と信頼性を担保します。
■ 両社コメント
J商エレ 代表取締役社長 柳澤 孝彰
「iSTART-TEKのソリューションは、半導体の信頼性向上に寄与する重要な技術です。J商エレの販売ネットワークを通じて、業界にお届けすることにより品質向上と競争力強化に貢献して参ります。」
iSTART-TEK 社長 JJ Lai氏
「JFE商事エレクトロニクスは、当社の日本市場拡大における有望なパートナーです。日本の半導体業界に貢献できることを楽しみにしております。」
[用語解説]|
NO. |
用語 |
解説 |
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※1 |
メモリテスト |
半導体チップ内メモリの動作検査 |
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※2 |
リペアソリューション |
不良箇所を予備回路で修復する技術 |
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※3 |
HPC |
スパコンやAIサーバーによる大規模な高速な計算 |
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※4 |
SoC |
複数機能を1チップに集積した半導体 |
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※5 |
MRAM / eFlash |
電源を切ってもデータが消えないメモリ |
■ iSTART-TEK Inc. 会社概要
会社名 iSTART-TEK Inc.
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